DS/ENV 50218:1997 ( Tilbagetrukket )

Beskrivelse af den europæiske parameteriserede minitestchip


Status:
Tilbagetrukket
Type:
Standard
Sprog:
Engelsk
Pris fra:
kr. 423,00

Beskrivelse

Denne publikation dokumenterer de parameteriserede MOS-teststrukturer for den europæiske Mini Test Chip's (ETC) Parameter extraction Test Chip (PTC). PTC'en er en delmængde af ETC'en. ETC'ens moduler sørger for et minimum sæt af teststrukturer, der bruges til at karakterisere en MOS teknologi. ETC'ens teststrukturer er automatisk genereret af et computerprogram for en given MOS teknologi.

Antal sider: 24

Udgivet: 1998-03-09

Godkendelsesdato: 1997-08-14

Tilbagetrækningsdato: 2007-03-27

Internationale relationer : ENV 50218:1996 IDT

ICS: 31.200 - Integrerede kredse. Mikroelektronik 35.240.01 - Anvendelse af informationsteknologi. Generelt

Varenummer: 26508