Standard

DS/ENV 50218:1997 - Tilbagetrukket

Beskrivelse af den europæiske parameteriserede minitestchip

Status
TilbagetrukketTilbagetrukket
Type
Standard
Varenummer
26508
Udgivelsesdato
1998-03-09
Internationale relationer
Tooltip
ENV 50218:1996 IDT
Antal sider
24

Scope

Denne publikation dokumenterer de parameteriserede MOS-teststrukturer for den europæiske Mini Test Chip's (ETC) Parameter extraction Test Chip (PTC). PTC'en er en delmængde af ETC'en. ETC'ens moduler sørger for et minimum sæt af teststrukturer, der bruges til at karakterisere en MOS teknologi. ETC'ens teststrukturer er automatisk genereret af et computerprogram for en given MOS teknologi.