DS/ENV 50219:1997 ( Tilbagetrukket )

Beskrivelse af pålidelighedsprøvens struktur for den europæiske minitestchip


Status:
Tilbagetrukket
Type:
Standard
Sprog:
Engelsk
Pris fra:
kr. 555,00

Beskrivelse

De teststrukturer, der beskrives her, passer til teknologier med op til tre metallag. Prøvningsstrukturen skal have gennemgået alle procestrin, inklusive den endelige passivering, for at sikre at alle mulige påvikninger fra forskellige procestrin (f. eks. temperaturprofiler, strålingsskade), er iberegnet. Strukturerne for højt accelererede stressprøver er medtaget, såvel som konventionelle pålidelighedsstrukturer, til bestemmele af levetiden ved hjælp af almindelige pålidelighedsmodeller.

Antal sider: 40

Udgivet: 1998-03-09

Godkendelsesdato: 1997-08-14

Tilbagetrækningsdato: 2007-03-27

Internationale relationer : ENV 50219:1996 IDT

ICS: 31.200 - Integrerede kredse. Mikroelektronik 35.240.01 - Anvendelse af informationsteknologi. Generelt

Varenummer: 26522